FAT (Funktions- und Abgleichtest)

- 8 Funktionstestplätze
- über 400 I/O bis 500V/8A
- AC / DC Source
- Arbitary Waveformgenerator
- alles Softwaregesteuert

ICT (In-Circuit-Test)

- 1 In-Circuit Testsystem
- Besonders geeignet für Großserien

Flying Probe Testsystem

- 4 frei bewegliche, programmgesteuerte Prüfnadeln mit luftgelagerten Linearmotoren
- Kameramodul für einfache AOI-Anwendungen
- Diverse Funktionsmodule wie Funktionsgenerator und programmierbare Netzteile bis 80 V
- Shuttle Board Loader zur schnellen Be- und Entladung des Testsystems
- Kontaktierung erfolgt an Testpunkten, SMD-Pads und Vias mit einer Wiederholgenauigkeit von 20µm
- Kurze Testprogrammerstellung und damit eine schnelle Testfähigkeit
- hohe Qualitätsabsicherung Ihrer Produkte schon ab Prototypenstatus
- Einsparung von Herstellungskosten für Prüfadapter
- Präzise und schnelle Fehlerlokalisierung durch:
     Electrical Test, OpenPin Scan, Power On Test, Optical Test und Short Test

Safety Test

- Hochspannungstest, Schutzleiter, Ableitstromprüfung
- Bis 6kV AC / 8,5kV DC
- Spannungsrückmessung, Kontaktierüberwachung
- Prüfdatenerfassung

Run-In, Burn-In

Im Run-In-Test wird die Langlebigkeit und Ausfallsicherheit von Baugruppen und Geräten getestet. Dabei werden über die Versorgungsspannung Grundlasten und zyklische Belastungen simuliert. Run-In-Tests werden vor allem bei Geräten mit langer aktiver Betriebszeit angewendet.

Programmierung

Wir verfügen über eine Vielzahl von IN-System und Offline Programmiergeräten für die unterschiedlichsten Controllertypen. Gerne prüfen wir im Zuge Ihrer konkreten Anfrage zur Programmierung die interne Verfügbarkeit in unserem Haus und erweitern diese bei Bedarf entsprechend.