Um unsere Webseite für Sie optimal zu gestalten und fortlaufend verbessern zu können, verwenden wir Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie der Verwendung von Cookies zu.

Weitere Informationen zu Cookies erhalten Sie in unserer Datenschutzerklärung

OK verstanden
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

FAT (Funktions- und Abgleichtest)

- 8 Funktionstestplätze
- über 400 I/O bis 500V/8A
- AC / DC Source
- Arbitary Waveformgenerator
- alles Softwaregesteuert

ICT (In-Circuit-Test)

- 1 In-Circuit Testsystem
- Besonders geeignet für Großserien

Flying Probe Testsystem

- 4 frei bewegliche, programmgesteuerte Prüfnadeln mit luftgelagerten Linearmotoren
- Kameramodul für einfache AOI-Anwendungen
- Diverse Funktionsmodule wie Funktionsgenerator und programmierbare Netzteile bis 80 V
- Shuttle Board Loader zur schnellen Be- und Entladung des Testsystems
- Kontaktierung erfolgt an Testpunkten, SMD-Pads und Vias mit einer Wiederholgenauigkeit von 20µm
- Kurze Testprogrammerstellung und damit eine schnelle Testfähigkeit
- hohe Qualitätsabsicherung Ihrer Produkte schon ab Prototypenstatus
- Einsparung von Herstellungskosten für Prüfadapter
- Präzise und schnelle Fehlerlokalisierung durch:
     Electrical Test, OpenPin Scan, Power On Test, Optical Test und Short Test

Safety Test

- Hochspannungstest, Schutzleiter, Ableitstromprüfung
- Bis 6kV AC / 8,5kV DC
- Spannungsrückmessung, Kontaktierüberwachung
- Prüfdatenerfassung

Run-In, Burn-In

Im Run-In-Test wird die Langlebigkeit und Ausfallsicherheit von Baugruppen und Geräten getestet. Dabei werden über die Versorgungsspannung Grundlasten und zyklische Belastungen simuliert. Run-In-Tests werden vor allem bei Geräten mit langer aktiver Betriebszeit angewendet.

Programmierung

Wir verfügen über eine Vielzahl von IN-System und Offline Programmiergeräten für die unterschiedlichsten Controllertypen. Gerne prüfen wir im Zuge Ihrer konkreten Anfrage zur Programmierung die interne Verfügbarkeit in unserem Haus und erweitern diese bei Bedarf entsprechend.